English
  • head_banner_01
Imej Ditampilkan Spektrometer FTIR Kecekapan Tinggi Kualiti Tinggi WQF-520A
  • Berkualiti Tinggi Kecekapan Tinggi WQF-520A Spektrometer FTIR

Berkualiti Tinggi Kecekapan Tinggi WQF-520A Spektrometer FTIR

Penerangan Ringkas:

  • Interferometer Michelson sudut kiub jenis baharu mempunyai saiz yang lebih kecil dan struktur yang lebih padat, memberikan kestabilan yang lebih tinggi dan kurang sensitif kepada getaran dan variasi terma berbanding interferometer Michelson konvensional.
  • Interferometer lembap dan kalis debu yang tertutup sepenuhnya, menggunakan prestasi tinggi, bahan pengedap seumur hidup yang panjang dan desikator, memastikan kebolehsuaian yang lebih tinggi kepada persekitaran dan meningkatkan ketepatan dan kebolehpercayaan dalam operasi.Tingkap yang boleh dilihat untuk gel silika membolehkan pemerhatian dan penggantian yang mudah.
  • Sumber IR terpencil dan reka bentuk ruang pelesapan haba ruang yang besar memberikan kestabilan terma yang lebih tinggi.Gangguan stabil diperoleh tanpa memerlukan pelarasan dinamik.
  • Sumber IR intensiti tinggi menggunakan sfera refleks untuk mendapatkan sinaran IR yang sekata dan stabil.

Butiran Produk

Tag Produk

ciri-ciri

  • Reka bentuk penggantungan regangan kipas penyejuk memastikan kestabilan mekanikal yang baik.
  • Ruang sampel super lebar memberikan lebih fleksibiliti untuk menampung pelbagai aksesori.
  • Aplikasi penguat perolehan boleh atur cara, penukar A/D ketepatan tinggi dan komputer terbenam meningkatkan ketepatan dan kebolehpercayaan keseluruhan sistem.
  • Spektrometer bersambung ke PC melalui port USB untuk kawalan automatik dan komunikasi data, merealisasikan operasi pasang dan main sepenuhnya.
  • Kawalan PC yang serasi dengan perisian fungsi yang mesra pengguna dan kaya membolehkan operasi yang mudah, mudah dan fleksibel.Pengumpulan spektrum, penukaran spektrum, pemprosesan spektrum, analisis spektrum, dan fungsi output spektrum dsb. boleh dilakukan.
  • Pelbagai perpustakaan IR khas tersedia untuk carian rutin.Pengguna juga boleh menambah dan menyelenggara perpustakaan atau menyediakan perpustakaan baharu sendiri.
  • Aksesori seperti Refleksi Defused/Specular, ATR, Sel Cecair, Sel Gas, dan mikroskop IR dsb boleh dipasang di dalam petak sampel.

Spesifikasi

  • Julat Spektrum: 7800 hingga 350 cm-1
  • Resolusi: Lebih baik daripada 0.5cm-1
  • Ketepatan Nombor Gelombang: ±0.01cm-1
  • Kelajuan Pengimbasan: 5-langkah boleh laras untuk aplikasi yang berbeza
  • Nisbah isyarat kepada hingar: lebih baik daripada 15,000:1 (nilai RMS, pada 2100cm-1, resolusi: 4cm-1, pengesan: DTGS, pengumpulan data 1 minit)
  • Pemisah rasuk: KBr bersalut Ge
  • Sumber Inframerah: Modul Sfera Refleks yang disejukkan dengan udara dan kecekapan tinggi
  • Pengesan: DTGS
  • Sistem data: Komputer yang serasi
  • Perisian: Perisian FT-IR mengandungi semua rutin yang diperlukan untuk operasi spektrometer asas, termasuk carian perpustakaan, kuantiti dan eksport spektrum
  • Perpustakaan IR 11 perpustakaan IR disertakan
  • Saiz: 54x52x26cm
  • Berat: 28kg

Aksesori

Aksesori Pantulan Resap/Spekular
Ia adalah pemantulan meresap serba boleh dan aksesori pemantulan spekular.Mod pantulan meresap digunakan untuk analisis sampel telus dan serbuk.Mod pantulan specular adalah untuk mengukur permukaan reflektif licin dan permukaan salutan.

  • Daya tampung cahaya tinggi
  • Operasi mudah, tiada pelarasan dalaman diperlukan
  • Pampasan penyimpangan optik
  • Titik cahaya kecil, dapat mengukur sampel mikro
  • Sudut tuju boleh ubah
  • Cepat tukar cawan serbuk

ATR Mendatar /Sudut Boleh Ubah ATR (30°~ 60°)
ATR mendatar sesuai untuk analisis getah, cecair likat, sampel permukaan yang besar dan pepejal lentur dsb. ATR sudut boleh ubah digunakan untuk pengukuran filem, melukis (menyalut) lapisan dan gel dsb.

  • Pemasangan dan operasi yang mudah
  • Daya tampung cahaya tinggi
  • Kedalaman boleh ubah penembusan IR

Mikroskop IR

  • Analisis sampel mikro, saiz sampel minimum: 100µm (pengesan DTGS) dan 20µm (pengesan MCT)
  • Analisis sampel tidak merosakkan
  • Analisis sampel lut sinar
  • Dua kaedah pengukuran: penghantaran dan pantulan
  • Penyediaan sampel yang mudah

ATR Refleksi Tunggal
Ia memberikan daya pemprosesan yang tinggi apabila mengukur bahan dengan penyerapan yang tinggi, seperti polimer, getah, lakuer, gentian dll.

  • Daya pengeluaran tinggi
  • Operasi yang mudah dan kecekapan analisis yang tinggi
  • Plat kristal ZnSe, Diamond, AMTIR, Ge dan Si boleh dipilih mengikut aplikasi.

Aksesori untuk Penentuan Hidroksil dalam Kuarza IR

  • Pengukuran kandungan Hidroksil yang cepat, mudah dan tepat dalam kuarza IR
  • Pengukuran terus ke tiub kuarza IR, tidak perlu memotong sampel
  • Ketepatan: ≤ 1×10-6(≤ 1ppm)

Aksesori untuk Oksigen dan Karbon dalam Penentuan Kristal Silikon

  • Pemegang plat silikon khas
  • Pengukuran oksigen dan karbon secara automatik, cepat dan tepat dalam kristal silikon
  • Had pengesanan bawah: 1.0×1016 cm-3( pada suhu bilik)
  • Ketebalan plat silikon: 0.4~4.0 mm

Aksesori Pemantauan Habuk Serbuk SiO2

  • SiO istimewa2perisian pemantauan habuk serbuk
  • Pengukuran SiO yang cepat dan tepat2habuk serbuk

Aksesori Pengujian Komponen

  • Pengukuran pantas dan tepat bagi tindak balas komponen seperti MCT, InSb dan PbS dsb.
  • Lengkung, panjang gelombang puncak, panjang gelombang berhenti dan D* dsb boleh dipersembahkan.

Aksesori ujian Gentian Optik

  • Pengukuran kadar kehilangan gentian optik IR yang mudah dan tepat, mengatasi kesukaran untuk ujian gentian, kerana ia sangat nipis, dengan lubang lintasan cahaya yang sangat kecil dan tidak mudah dibaiki.

Aksesori Pemeriksaan Barang Kemas

  • Pengenalpastian tepat barang kemas.

Aksesori Universal

  • Sel cecair tetap dan sel cecair boleh dibongkar
  • Sel gas dengan panjang laluan yang berbeza
  • Sebelumnya:
  • Seterusnya:
    • Tulis mesej anda di sini dan hantarkan kepada kami

    Produk Berkaitan