AES-8000 AC/DC ARC EMISSION SPECTROMETER
Aplikasi biasa
1. Penentuan serentak Ag, Sn, B, Mo, Pb, Zn, Ni, Cu dan unsur-unsur lain dalam sampel geologi;ia juga boleh digunakan untuk mengesan unsur logam berharga dalam sampel geologi (selepas pengasingan dan pengayaan);
2. Penentuan beberapa hingga berpuluh-puluh unsur kekotoran dalam logam ketulenan tinggi dan oksida ketulenan tinggi, sampel serbuk seperti tungsten, molibdenum, kobalt, nikel, telurium, bismut, indium, tantalum, niobium, dsb.;
3. Analisis unsur surih dan surih dalam sampel serbuk tidak larut seperti seramik, kaca, abu arang batu, dsb.
Salah satu program analisis sokongan yang sangat diperlukan untuk sampel penerokaan geokimia
Ideal untuk pengesanan komponen kekotoran dalam bahan ketulenan tinggi
ciri-ciri
Sistem Pengimejan Optik yang Cekap
Sistem optik Ebert-Fastic dan laluan optik tiga kanta diguna pakai untuk menghilangkan cahaya sesat dengan berkesan, menghapuskan penyimpangan halo dan kromatik, mengurangkan latar belakang, meningkatkan keupayaan pengumpulan cahaya, resolusi yang baik, kualiti garis spektrum seragam, dan mewarisi sepenuhnya laluan optik satu -meter grating spectrograph Kelebihannya.
- Struktur optik padat dan sensitiviti tinggi;
- Kualiti imej yang baik, satah fokus lurus;
- Kadar penyebaran talian terbalik 0.64nm/mm;
- Resolusi spektrum teori ialah 0.003nm (300nm).
Penderia CMOS tatasusunan linear berprestasi tinggi dan sistem pemerolehan berkelajuan tinggi
- Menggunakan sensor CMOS sensitif UV, kepekaan tinggi, julat dinamik yang luas, hanyut suhu kecil;tidak perlu salutan, tiada kesan meluaskan spektrum peranti, tiada masalah penuaan filem.
- Sistem pemerolehan segerak berbilang CMOS berkelajuan tinggi dan sistem pemprosesan data berdasarkan teknologi FPGA bukan sahaja melengkapkan pengukuran automatik garis spektrum elemen analitik, tetapi juga merealisasikan fungsi penentukuran automatik garis spektrum segerak dan penolakan latar belakang automatik
Sumber cahaya pengujaan arka AC dan DC
Ia adalah mudah untuk menukar antara arka AC dan DC.Mengikut sampel yang berbeza untuk diuji, memilih mod pengujaan yang sesuai adalah berfaedah untuk menambah baik analisis dan keputusan ujian.Untuk sampel bukan konduktif, pilih mod AC, dan untuk sampel konduktif, pilih mod DC.
Penjajaran Automatik Elektrod
Elektrod atas dan bawah secara automatik bergerak ke kedudukan yang ditetapkan mengikut tetapan parameter perisian, dan selepas pengujaan selesai, keluarkan, dan gantikan elektrod, yang mudah dikendalikan dan mempunyai ketepatan penjajaran yang tinggi.
Tingkap tontonan yang selesa
Teknologi unjuran pengimejan elektrod yang dipatenkan memaparkan semua proses pengujaan pada tetingkap pemerhatian di hadapan instrumen, yang memudahkan pengguna memerhati pengujaan sampel dalam ruang pengujaan, dan membantu memahami sifat dan tingkah laku pengujaan sampel .
Perisian Analisis Berkuasa
- Penentukuran automatik masa nyata garis spektrum untuk menghapuskan pengaruh hanyutan instrumen;
- Latar belakang dipotong secara automatik untuk mengurangkan gangguan faktor manusia;
- Melalui algoritma pemisahan garis spektrum, mengurangkan pengaruh gangguan spektrum;
- Penukaran automatik penentuan pelbagai spektrum untuk meluaskan julat kandungan pengesanan;
- Gabungan dua kaedah pemasangan meningkatkan ketepatan analisis sampel;
- Maklumat garis spektrum yang banyak, meluaskan bidang aplikasi analisis;
- Perisian analisis khas, sesuai untuk keperluan ujian sampel yang berbeza.
- Fungsi pasca pemprosesan data yang mudah memendekkan proses percubaan dan menjadikan pemprosesan data lebih fleksibel
Perlindungan keselamatan
- Pemantauan aliran air beredar penyejukan klip elektrod boleh mengelakkan pembakaran suhu tinggi klip elektrod;
- Aktifkan sambungan keselamatan pintu ruang untuk melindungi keselamatan pengendali.
Parameter
| Borang laluan optik | Jenis Ebert-Fastic simetri menegak | Julat semasa | 2~20A(AC) 2~15A(DC) |
| Garisan Kisi Satah | 2400 keping/mm | Sumber cahaya pengujaan | Arka AC/DC |
| Panjang fokus laluan optik | 600mm | Berat badan | Kira-kira 180Kg |
| Spektrum teori | 0.003nm (300nm) | Dimensi (mm) | 1500(L)×820(W)×650(H) |
| Resolusi | 0.64nm/mm (kelas pertama) | Suhu malar ruang spektroskopi | 35OC±0.1OC |
| Nisbah Penyerakan Garis Jatuh | Sistem perolehan berkelajuan tinggi segerak berdasarkan teknologi FPGA untuk sensor CMOS berprestasi tinggi | Keadaan persekitaran | Suhu bilik 15 OC~30 OC Kelembapan relatif<80% |